氫氣發(fā)生儀TCDH-500B

氫氣流量： 0—500ml/min
zui大功率： 200W
氫氣純度： 99.999%
重量： 12000.00克
輸出壓力： 0—0.7 Mpa 可調 
電源電壓： AC220V 50/60 HZ 10A

氫氣發(fā)生儀TCDH-500B ◇ 池體具有過液保護功能，確保儀器安全運行。
◇ 氫氣多級凈化后輸出，氫氣純度更高。
◇ 氫氣輸出壓力達到0.7MPA 。
◇ 強制散熱，延長控制電源及池體使用壽命。
◇ 有效電解面積大、池溫底，整機運行穩(wěn)定性更強。
◇ 整機操作簡單、維護方便。
◇ 附帶廢氣凈化器，排放更加純凈

 產(chǎn)品名稱：數(shù)顯維氏硬度計 
產(chǎn)品型號：TDHVS-50

數(shù)顯維氏硬度計 型號：TDHVS-50

TDHVS-50型數(shù)顯維氏硬度計 
該機采用無摩擦主軸，試驗力精度高；數(shù)字式壓痕自動測量系統(tǒng)；試驗過程自動化，無人為操作誤差；大型LCD液晶顯示屏，菜單操作，功能齊全（數(shù)據(jù)處理、硬度轉換等）；自動數(shù)字顯示，無人為讀數(shù)誤差；隨機打印機打印硬度測試結果；精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國ASTM E92。  
數(shù)顯維氏硬度計主要應用范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；材料強度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度；應用范圍廣，特別于平行平面的精密測量。 
數(shù)顯維氏硬度計主要技術參數(shù) 
測量范圍：5-2900HV 
試 驗 力：9.807、49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛頓 
              (1、5、10、20、30、50公斤力) 
試件允許大高度：180毫米                壓頭中心至機壁距離：125毫米 
光學測微計放大倍數(shù)：125倍，50倍        小檢測單位：0.5微米     
電     源：交流220伏，50/60赫茲         外形尺寸：580 x 260 x 730毫米 
重     量：約90千克 
數(shù)顯維氏硬度計主要附件 
大平試臺：1個             小平試臺：     1個 
V形試臺： 1個            標準維氏壓頭：1只 
標準維氏硬度塊：3塊

產(chǎn)品名稱：電阻率及型號測試儀 硅半導體測試儀
產(chǎn)品型號：JX2008 

電阻率及型號測試儀 硅半導體測試儀型號：JX2008 

產(chǎn)品說明  
JX2008 電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的多功能 
綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和 
軸向電阻率，于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。  
 JX2008 電阻率及型號測試儀 產(chǎn)品特點  
1儀器采用 220V 交流電源供電。  
2  同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。  
3  擁有較高的電阻率測試分辨率， 小可到0.001歐姆.厘米。   
4  能精確的分辨電阻率在0.002歐姆.厘米以上的硅半導體材 
料型號。  
5  獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規(guī)模快速選料。  
6  適中的體積和便攜性。  
7  簡單的操作，快速的測試。  
8  低廉的價格，很高的性價比。  
1.具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。  
2.電阻率分檔直觀，P/N報警門限分設。  
3.預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率  
4.P/N分選精度強  
5.交流電AC220V供電  
6.主機尺寸：155×120×50mm  
6.電阻率:0.001-100歐姆厘米  
7.P/N型號:0.05歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米